일반기술

공간좌표의 레이저 비접촉 측정 시스템

제안된 공간 좌표 측정 기술은 공간상에서 목표좌표의 원격 결정뿐 아니라 복잡한 모양의 물품 표면과 움직이는 물체의 표면 윤곽의 간단한 비접촉 측정을 위한 시스템과 장치들의 적용이다. 측정 방법은 다량의 광점(가시광선 또는 적외선 영역)으로 형성된 측정물체의 전자(비기계적) 스캐닝으로 구성된다. 그 다음 인위적인 비젼 시스템으로 각 광점에 대한 모든 3개의 좌표의 결정을 하고 이 좌표축을 이용하여 공간사의 물체의 실제 표면과 위치를 복원해 낸다. 이 독특한 광전자 레이저 장치가 주어진 방법을 실현하기 위해서 사용된다. 이 장치는 레이저 광시스템, 유체 결정 매트릭스(LCM), 선형 광 검출기로 구성고, 좌표 결정이 매우 정확하고, 속도가 빠르고, 동역학에서의 제어를 포함한 많은 광점을 제어할 수 있다는 것이 특징이다.전자 간섭에 근거한 제안된 공간좌표 측정 기술의 적용은 비접촉방법의 모든 이점을 유지하면서 현재 세계 각국에서 사용되는 장치들의 단점을 제거할 수 있을 것이다.

기술정보

기술분류
물리학 > 기타 광학
보유기관
특허법인충정
기술유형
일반기술
등록일
2000-04-24
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

관련 특허

등록된 관련 특허가 없습니다.