일반기술
다파장 광원을 이용한 전류 및 온도 측정 광센서 시스템
본 발명은 온도에 영향을 받지 않고 자기장(또는 전류)을 측정할 수 있을 뿐 아니라 동시에 온도도 함께 측정이 가능한 광센서 시스템을 제공하기 위한 것이다. 본 발명에서는 패러데이 소자의 Verdet 상수가 온도에 따라 변할 뿐 아니라 광의 파장에 대해서도 변한다는 점을 활용하여 별도의 온도 센서를 부착하지 않고도 온도의 영향을 배제한 정확한 자기장(또는 전류)의 측정이 가능하도록 하였고, 동시에 온도도 측정할 수 있도록 한 것으로, 적어도 2개 이상의 파장을 가지는 다파장 광원과; 선편광된 다파장 광이 자신의 내부를 통과하도록 하는 패러데이 소자와; 상기 패러데이 소자를 통과한 광의 선편광 회전각을 각 파장별로 검출하는 수단과; 상기 파장별 회전각들의 상호관계로부터 상기 패러데이 소자에 인가되는 자기장의 크기 및 온도를 검출하는 신호처리수단; 을 구비한 광센서 시스템 및 그 측정방법을 제공한다. 따라서, 본 발명은 온도에 의한 영향을 받지 않고 감지할 수 있고, 전기적 절연 비용이 줄어들며, 주변의 전자기장에 의한 잡음이나 써지에 강하여 신뢰성이 높은 과전류 보호계전기 및 미터링 시스템의 구현할 수 있게 된다.적어도 2개 이상의 파장을 가지는 광신호를 발생시키는 다파장 광원과; 그 다파장 광원에서 발생된 광 신호를 광섬유를 통해 입사받아 선편광시키는 편광기, 선편광된 다파장 광이 감지하고자 하는 대상의 전류 및 온도에 따라 회전각이 달 라지도록 하는 패러데이 소자를 포함하는 선편광 회전부와; 상기 패러데이 소자를 통과한 광의 선편광 회전각을 검출하 여 파장별로 분리시키는 회전각 검출부와; 그 회전각 검출부에서 검출된 상기 파장별 회전각들의 상호 관계로부터 상기 패러데이 소자에 인가되는 자기장의 크기 및 온도를 검출하는 신호 처리부; 를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 다 파장 광원을 이용한 전류 및 온도 측정 광센서.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 부산기술이전센터
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2005-05-23
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.