일반기술
웨이브렛 변환을 이용한 고저항 지락 사고의 검출 방법
본 발명은 웨이브렛 변환을 이용한 고저항 지락 사고의 검출 방법에 관한 것으로서, 고역 필터와 저역 필터로 구성된 다단계의 웨이브렛 필터 뱅크를 이용하여 과도 상태의 전압 및 전류에 대한 웨이브렛 변환을 실시하는 제 1 단계와, 상기 다단계의 웨이브렛 필터 뱅크의 필터중 4단계 저역 필터를 통해 검출된 신호가 있는지 확인하는 제 2 단계와, 상기 제 2 단계의 확인 결과 상기 4단계 저역 필터를 통해 검출된 신호가 있으면, 그 신호에 의해 1선 지락 사고를 검출한 후, 상기 4단계 저역 필터의 계수값에 대한 기본파를 추출하여 고장점을 추정하며, 상기 4단계 저역 필터를 통해 검출된 신호가 없으면, 1단계 고역 필터를 통해 검출된 신호가 있는지의 여부를 확인하는 제 3 단계와, 상기 제 3 단계의 확인 결과 상기 1단계 고역 필터를 통해 검출된 신호가 있으면, 그 신호에 의해 고저항 지락 사고를 검출한 후, 상기 4단계 저역 필터의 계수값에 대한 기본파를 추출하고, 그 기본파의 임피던스 궤적을 수행하여 고장점을 추정하는 제 4 단계로 구성되어, 고저항 지락 사고가 발생한 경우, 이를 검출하여 그 사고 구간을 차단시킴으로써, 광역정전이 야기되는 현상을 방지한다는 장점이 있다.고역 필터와 저역 필터로 구성된 다단계의 웨이브렛 필터 뱅크를 이용하여 과도 상태의 전압 및 전류에 대한 웨이브렛 변환을 실시하는 제 1 단계와, 4차 웨이브렛 변환에 의한 계수값을 이용하여 저역 필터를 통해 검출된 신호가 있는지 확인하는 제 2 단계와, 상기 제 2 단계의 확인 결과 저역 필터를 통해 검출된 신호가 있으면, 그 신호에 의해 1선 지락 사고를 검출한 후, 상기 4차 웨이브렛 변환에 의한 계수값에 대한 기본파를 추출하여 고장점을 추정하며, 상기 4단계 저역 필터를 통해 검출된 신호가 없으면, 1차 고역 필터를 통해 검출된 신호가 있는지의 여부를 확인하는 제 3 단계와, 상기 제 3 단계의 확인 결과 상기 1차 고역 필터를 통해 검출된 신호가 있으면, 그 신호에 의해 고저항 지락 사고를 검출한 후, 상기 4단계 저역 필터의 계수값에 대한 기본파를 추출하고, 그 기본파의 임피던스 궤적을 수행하여 고장점을 추정하는 제 4 단계로 구성된 것을 특징으로 하는 웨이브렛 변환을 이용한 고저항 지락 사고의 검출 방법.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 부산기술이전센터
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2005-06-13
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.