일반기술
광학기기 열화과정의 검출 방법및 검출 장치
열화 진행 속도가 다른 2종류 이상의 광학기기를 탑재한 인고위성에서, 인공위성의 측거잔사를 경시적으로 측정하는 수단. 측정잔사 값에서 인공위성의 경위도 영역의 특정 주파수를 검출하는 수단과 열화진행이 빠른 광학기기의 열화과정을 검출하는 장치이다. 열화전의 스펙톨(그림1)에 대해 열화도(그림2)의 패턴을 비교하면 용융석영과 BK7을 한번에 섞은±35보다 고위도 영역의 스펙톨은 열화 전후에 거의 변화하지 않는 것에 대해 용융석영과 BK7를 교대로 늘어놓은 ±30보다 적도에 가까운 저위도 영역에서는 특히 잔사 스펙톨의 차이가 현저하다. 이것은 BK7부분이 열화하면, 레이저를 반사하지 못하기 때문에 나타나는 현상이다 . 이 변화로 열화 진행 검출이 가능하다.인공위성 표면에 탑재하는 광학기기는 우중 공간에서 방사선등의 의해 열화가 진행한다고 생각할 수 있다. 본발명은 지금까지 실재로 계측된 사례가 거의 없었던 광학기기의 열화과정을 검출할 수있는 효과가 있다. 여러가지 재질의 광학기기가 우주공간에서의 열화하는 과정을 밝히므로서 인공위성의 목적에 맞추어 보다 안전하고 저렴한 재질의 광학 기기를 고를수 있다. 인공위성은 지구 자장의 영향으로 그 스핀레이트가 감쇠하지만 스핀레이트가 크게 변동하는 경우에도 광학기기의 열화 진행변동에 따른 데이터의 변화를 판별할수 있는 효과가 있다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전자요소 기술
- 보유기관
- 한국기술벤처재단
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2005-07-18
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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