반도체 패키지의 결함 검출 시스템 및 이를 이용한 검출 방법(SYSTEM FOR DETECTING DEFECTS OF SEMICONDUCTOR PACKAGE AND DETECTING METHOD USING THE SAME)

기술정보

기술분류

정보 없음

보유기관

한국생산기술연구원

기술유형

기부·나눔 기술

등록일

2024-03-18

데이터 갱신일

정보 없음

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