일반기술
초전도체와 자성재료 내의 자장 분포 관찰용 자기광학적 인디케이터 필름 기법
초전도체와 자성재료 내의 자장 분포 관찰력의 신기법을 개발하였다. 자장은 필름을 통과하는 분광의 분극화 평명의 파리데이 회전으로 인하여 자기광학적 인디케이터 필름을 사용하여 가시화 한다. 기타 유사방식(유러퓸 첼코제나이드(europium chalcogenide) 피복과 자기광학적 유리의 적용)에 비유할 때, 이 방식은 더 넓은 온도 범위(~400K까지)에서 더 높은 감도와 기능을 가진다. 이외에도, 우리 방식은 매우 간단하고 즉석적이어서 비파괴 표본의 검사용으로 사용할 수 있게 한다. 우리는 이제 0.5mm 공간 해상도와, 0.1Oe만큼 높은 자장에 관하여 감도를 가진 자장 분포를 관찰할 수 있다. 우리 인디케이터의 조작 범위는 0 내지 ~2000Oe 이다.더 높은 감도를 가질 신규 자기광학적 필름의 개발. 감도와 공간 해상도를 추가로 증가시키기 위한 영상 처리 기법의 적용. 더 넓은 온도범위와 더 높은 자장에서 작업할 수 있는 신규 인디케이터 재료의 개발.
기술정보
- 기술분류
- 재료 > 기타 금속재료
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2000-04-24
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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