일반기술
레디신호를 이용한 하드웨어 검사 회로
본고안은 레디(READY)신호를 이용한 하드웨어 검사회로로서 더욱 상세하게는 80196 마이크로프로세서에 부가하여 레디(READY)신호와 인스트(INST)신호를 이용하여 한번에 하나의 명령어를 수행시킴으로써 하드웨어의 디버깅을 간단하게 할 수 있는 하드웨어 검사회로에 관한 것으로 검사하고자 하는 하드웨어에 부가하여 디버깅( debugging ; 초기 고장을 경감시키기 위해 아이템을 사용하기전 또는 사용한 후의 초기에 동작시켜서 결점을 검출 및 제거하고 시정하는 것)을 쉽고 간단하게 할 수 있으며, 이동이 간편하고 가격이 저렴한 검사장치를 제공하는 효과가 있으며 본 고안을 인서킷 에뮬레이터에 적용하여 응용할 수 있는 장점이 있다.8096, 8097, 80196, 8796 및 87196 마이크로프로세서에 있어서, 스위치작동에 의해 발생되는 트리거신호를 비반전시키는 인버터와, 인버터의 비반전신호가 클리어단자에 입력되고 마이크로프로세서 인스트신호를 입력으로 하는 디플립플롭과, 상기 인버터를 통해 반전된 트리거신호와 상기 디플립플롭의 출력단의 신호를 입력으로 하며 그 출력을 마이크로프로세서의 레디신호로 입력하는 노아게이트로 구성된 것을 특징으로 하는 레디신호를 이용한 하드웨어 검사회로.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 삼성전자(주)
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2006-03-15
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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