일반기술

음극선관의패널검사장치

종래의 패널 결함 검사장치에 있어서, 검사 대상 패널은 일정 곡률면을 가지고 있으므로, 이 곡률면에 대하여 카메라와 조명을 일치시키기 어렵고, 또한 패널은 그 내면이 거칠게 형성되어 있어서 광 산란이 일부 발생하게 되어 카메라에 입력된 신호가 노이즈의 형태를 보이게 되므로 검사 성능이 저하되는 문제점이 있었다. 따라서, 본 기술은 상기한 바와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로서, 본 기술의 목적은 검사 대상 패널에 광을 조사하여 투과시키는 광원을 쌍직관식으로 형성하고, 여기에 광집속수단을 설치하여 패널의 곡률면에 대해서도 투과되는 광량이 일정하게 대응하여 조사되도록 함으로써, 패널 결함 인식에 바람직한 형태의 전기적 신호를 유도하여 패널 결함 검사의 성능 및 효율을 향상시킬 수 있도록 한 음극선관 패널의 결함 검사장치를 제공하는 것이다.본 발명의 음극선관 패널의 결함 검사장치는, 음극선관 패널을 향하여 광을 조사하는 광원과, 상기 패널을 투과한 광량 정보를 입력받아 전기적 신호를 변환시켜주기 위한 광전변환수단을 포함하는 음극선관 패널 검사장치에 있어서, 위 광원은, 1.서로 나란하게 마련된 한 쌍의 직관과; 2.직관에 각각 수용되는 램프와; 3.위 램프로부터 출사된 광의 경로를 일방향으로 집속하여 통과시키도록 상기 직관의 일측에 구비되어 공간통로를 형성하는 커버와; 상기 공간통로의 끝단에 위치하도록 상기 커버에 설치되는 광집속수단과;을 포함하는 것을 특징으로 한다.본 기술에 의한 음극선관 패널 검사장치에 있어서, 광집속수단은 위 패널의 곡률면과 대응되는 곡률면을 가지도록 원통형으로 형성된 광학렌즈인 것이 바람직하다. 이러한 구성적 특징에 따르면, 패널의 곡률면에 대응하여 광원으로부터 조사되는 광량이 일정한 상태로 조사될 수 있다. 그리고, 직관과 커버의 내부에는 광반사물질이 도포된 것이 바람직하다.

기술정보

기술분류
전기·전자 > 기타 전기시스템
보유기관
삼성전자(주)
기술유형
일반기술
등록일
2006-03-15
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

관련 특허

등록된 관련 특허가 없습니다.