일반기술

반도체식 논리회로 기판 검사장치

본 기술은 반도체식 논리회로기판의 검사장치에 관한 것으로 특히, 원자력 발전소의 원격제어설비로 사용되고 있는 반도체식 논리회로 계통(Solide State Interposing Logic System : SSILS)를 구성하는 각종 전자회로 기판의 기능의 이상 유무를 검사하는 검사장치에 관한 것이다. 반도체식 논리회로를 구성하는 각종 전자회로 기판은 수많은 반도체 소자로 구성되어 있어 신뢰성과 안전성을 생명으로 하는 원자력 발전소에 각각의 구성소자의 오동작으로 인한 파급 효과는 대단히 위협적인 것이며, 안전을 저해하는 요인이 되고 있다.따라서, 본 발명은 기존의 장치에 비해 능률적이고 신뢰할 수 있는 반도체식 논리회로 기판을 자동으로 검사하는 반도체식 논리회로 기판 검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.본 기술에 의하여 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다.첫째, 반도체식 논리회로 기판의 검사가 검사장치에 의해 자동으로 수행되어 질 수 있으므로 인력과 시간을 절약하게 되어 대단히 경제적이고 능률적이다.둘째, 검사의 결과가 검사자의 능력에 좌우됨이 없이 항상 동일하게 되므로 검사의 결과를 신뢰할 수 있다.셋째, 본 기술에 따른 자동검사장치를 이용하면 점검 및 정비 능력이 15배에서 60배까지 향상되어 신속 정확한 고장 진단 및 정비가 가능하여, 정기적인 시험 검사를 통한 반도체식 논리회로 기판의 건전성 확보가 가능하다.넷째, 고장으로 판명된 기판의 정비 결과의 적합성 여부를 즉시 확인할 수 있으므로 정비의 편리성이 증대된다.다섯째, 검사 결과를 고속 대용량의 저장 매체에 데이터 베이스화하여 저장 관리하므로 과학적이고 체계적인 관리가 가능하며 관리의 용이성이 증대된다.