일반기술

전전자 교환기의 기능 시험 방법

본 기술은 전전자 교환기의 기능 시험 방법으로 전 채널에 테스트 신호를 기록하여 송신하고 일정 시간 경과 후, 수신하여 데이터가 동일한지를 검사하던 방법에서,타이머 인터럽트 주기를 조정하여 시험하고자하는 테스트 보드에 특정 신호 검출 시간을 함께 입력한다.이때, 각 채널 송신 영역에 테스트 데이터를 주기적으로 인터럽트를 실행함으로써 신호 검출 시간을 줄이고, 시험하고자하는 보드의 에러 원인을 손쉽게 찾는 전전자 교환기 시스템이 R2/DTMF 신호 송수신 기능을 시험하는 기술이다.기존의 기술은 시험하고자하는 테스트 보드를 선택하여 전 채널(Channel)에 테스트 신호를 송신하고 일정 시간 경과 후, 송신했던 데이터와 수신된 데이터가 동일한지를 검사했다.그러나, 검출 시간이 고정됨으로써 시험한 보드가 불량인 경우 시험한 보드가 검출이 전혀 안되는 보드인지 또는 타이밍이 맞지 않아 일정 시간안에 검출이 되지 않는지를 확인할 수 없는 문제점이 있다. 그래서, 시험한 보드가 불량인 경우 검출 시간을 일정 간격으로 늘려서 시험함으로써 시험보드가 검출이 전혀 안되는 보드인지 또는 타이밍이 맞지 않아 시험자가 입력한 시간안에 검출이 되지 않는지를 확인할 수 있도록 하는 전전자 교환기의 기능 시험 방법으로 신호 검출 시간을 확인해 보드의 에러 원인을 찾는 기술이다.