일반기술

폴리염화 디벤조-파라-다이옥신 및 디벤조퓨란 분석을 위한 분광전기화학적 방법의 개발

폴리염화 디벤조-파라-다이옥신(PCDD) 및 디벤조퓨란(PCDF)의 이성체 특성 분석을 위해서 비교적 비용이 적게 들고 시간이 절약되는 고감도 기술의 개발을 위해서 전기화학 및 분광학적 연구를 제안함. 이 기술은 액체금속 전극표면의 환원에 의해서 비가역적으로 흡수되는 PCDD 혹은 PCDF의 흡착농축과 관련된 표면신장 라만 분산(SERS,Surface Enhanced Raman Scattering)현상에 바탕을 두고 있음. 추정 탐지 한계치는 약 104의 SERS 신장계수와 105까지의 흡착농축계수에 대하여 투사 지점에서 4염화 디벤조-파라-다이옥신 약 10-16그람 수준이다. 아주 실제적으로 보이는 이들 매개변수들을 가지고 이 기술은 1차 농축단계에서 용적 기준으로 물 1리터 시료에 대하여 0.1pg/l PCD 의 분석을 가능하게 한다.다이옥신 분석을 위한 새로운 방법의 개발은 현재 사용되고 있는 비색(크로마토) 질량분석 기술과 같은 효과를 가지고 있음. 그러나 비용이 훨씬 적게 들고 시간이 적게 소요됨.

기술정보

기술분류
전기·전자 > 기타 산업용 전기전자
보유기관
특허법인충정
기술유형
일반기술
등록일
2000-04-24
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

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