일반기술

시스템온칩 환경하에서 제로검출 런렝스 코드를 이용한 테스트 데이터 압축 및 압축해제 방법

* 원리와 구성 SOC 소자의 테스트를 위한 테스트데이터를 압축하는 방법으로서, 인가될 테스트벡터를 TD라 정의하며, 이와 별도로 TDIFF는 아래와 같이 정의하는 단계, TD = {T1, T2, T3, T4, T5 , ..., TN} TDIFF = {D1, D2, ..., DN} = {T1 T1,T2, T2 T3, ..., TN-1 TN} ATPG에서 생성해주는 값을 가지고 TD와 TDIFF를 만들어주는 단계, 생성된 TDIFF를 하나의 체인으로 연결하는 단계, TDIFF를 순차적으로 스캔하다가 '1'이라는 비트가 나올 경우 코드워드를 작성하되, 코드워드가 '0000', 즉 '0'의 개수가 4개일 경우 0-GROUP의 비트를 하나씩 증가시키면서 체크하고, '1'이 나올때까지 이 작업을 반복하는 단계, '0000'×8이 되면 0111을 기록해주고 다시 '0'의 비트를 카운트하는 단계, '1'이 나왔을 경우 1-GROUP의 코드워드를 작성하는 단계를 포함하는, 시스템온칩 환경하에서 제로검출 런렝스 코드를 이용한 테스트데이터 압축방법이다.* 개발배경SoC환경으로 칩 구조가 변화함에 따라 테스트벡터의 수가 많아지게 되고 유사한 비트를 갖는 벡터들이 보다 더 많아지고 있다. 따라서 종래의 알고리즘으로는 보다 방대해지는 회로의 테스트셋(test set)을 효율적으로 압축할 수 없으며, 기존의 statistical code의 압축기법으로는 하드웨어의 크기(hardware overhead)가 상승하며 실제적으로 회로내부에서 테스트를 위한 기능블럭을 크게 만들 수 없기 때문에 간단한 하드웨어로 높은 압축률(compression ratio)을 얻을 수 있는 새로운 압축기법을 필요로 하게 된다.* 중요성및 독창성variable-to-variable-length code를 갖는 ZDR 코드를 이용한 압축방법을 제공하며, 두 개의 연속한 테스트벡터를 비교하여 이전 벡터와 다른 비트만을 '1'로 표기하고 동일한 비트인 경우에는 '0'으로 기록하므로 이를 역으로 수행하면 원래의 테스트벡터를 얻을 수 있도록 하여 효율적인 테스트데이터 압축방법을 실현한다.* 적용제품 및 관련시장직접회로 테스트, 보드시스템 테스트* 주요적용제품직접회로, 보드시스템* 특징및 장점각각의 테스트벡터의 양이 많아지기 때문에 ORDERING ALGORITHM을 사용하여 인접하는 테스트벡터만 잘 정렬시키게 된다면 '0'의 길이가 보다 더 길어지게 된다. '0000'을 하나의 블록으로 계산하고 '0000'이 있을 때마다 '0 GROUP'의 카운터를 하나씩 증가시켜서 코드워드를 증가시켜 준다. 해당 코드워드의 경우 메모리 블록을 사용하지 않고 단지 카운터만 사용해 압축해제(DECOMPRESSION)가 가능한 코드워드의 생성이 가능하게 된다.