일반기술

광학식 미세 간격 측정장치 및 이를 이용한 광픽업 장치

본 기술은 광기록 매체와 근접장 기록/재생 방식의 광학계 사이의 간격을 측정하는 장치에 있어서, 광원, 광원에서 나온 빔을 소정의 편광 상태로 만드는 편광수단, 편광수단과 광기록 매체 사이에 배치되어, 편광수단에서 나온 빔이 입사하는 제1면과, 광기록 매체에 대향하는 광학계의 최종면과 일치하도록 광기록 매체에 대향하는 제2면과, 광기록 매체에서 반사된 빔이 출사하는 제3면을 포함하는 베이스 프리즘, 광기록 매체에서 반사되어 베이스 프리즘의 제3면에서 나온 빔을 서로 직교하는 두 편광 상태의 빔으로 나누는 편광 분리 프리즘및 2개의 검출 영역으로 분리되어, 편광 분리 프리즘에 의하여 나뉘어진 두 편광 상태의 빔의 광량을 각각 검출하는 광검출기를 포함한다.베이스 프리즘은 편광수단에서 나온 빔이 입사하는 제1면과, 광기록 매체에 대향하는 광학계의 최종면과 일치하도록 광기록 매체에 대향하는 제2면과, 광기록 매체에서 반사된 빔이 출사하는 제3면을 구비한다. 빛이 광기록매체에서 반사할 때 편광 상태가 변화하는 것을 이용하여 편광 상태의 변화에 의하여 고체 침지 렌즈를 포함하는 광학계와 광기록 매체 사이의 공기 간격을 측정할 수 있다.

기술정보

기술분류
기계 > 기타 기계
보유기관
연세대학교
기술유형
일반기술
등록일
2006-05-24
데이터 갱신일
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상세설명

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