일반기술
금속의 층별 분석방법 및 장치
금속 표면의 층별 분석을 위한 emission spectrometer 및 분석법이 개발되었다. 그 방법은 0.5-100 μm의 간격으로 1.5 mm 깊이 까지 금속에 함유된 혼합물의 프로필을 측정하는데 사용된다. 레이저 삭마기술 및 레이저 plume에 의한 스펙트럼 분석기술을 기초로 한 장치를 사용함으로써 금속의 표층에 함유된 화학원소의 프로필에 관한 정보를 사전에 시료를 준비함이 없이 그 자리에서 바로 얻을 수가 있다. 이처럼 주어진 방법은, on-line으로 공작기계에 널리 사용되고 있는 경화층 및 합금층 형성을 위한 기술공정의 조절을 가능하게 한다.이 개발 결과는, 예를 들면 자동차 산업에 사용되는 저합금 철강의 질화처리공정의 조절을 위한 장치에 적용될 수 있을 것이다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 산업용 전기전자
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2000-04-24
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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