일반기술
광위상 측정용 근접장 주사 광학 현미경
본 기술은 피검물질에 광을 조사하는 광원, 광원으로부터 조사된 광을 분할하는 빔스프리터, 광원에서 조사된 후 상기 피검물질을 통과한 광을 반사시키는 광학 탐침, 피검물질로부터 나오는 광을 검출하는 광검출기르 포함한다,반사형 광학 탐침을 구비하여 피검 물질에서 반사된 광과 광학 탐침에서 반사된 광의 간섭광을 얻고, 이 간섭광을 검출하여 피검 물질의 내부 구조와 광학적 특성을 측정할 수 있다.광학탐침은 피검 물질을 통과한 광을 투과시킬 수 있고, 이 투과된 광을 이용하여 피검 물질의 투과율 변화 또는 흡수율 변화를 측정할 수가 있다광학 탐침을 통해 광을 조사하지 않기 때문에 탐침에 의한 광의 조사로 인해 탐침이 손상되는 것을 방지할 수가 있다.따라서, 신호대 잡음비를 향상시켜 준다.
기술정보
- 기술분류
- 기계 > 기타 기계
- 보유기관
- 연세대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2006-05-24
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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