일반기술

위상천이기를 이용한 결정론적 테스트패턴 생성 장치

* 원리 와 구성 다중 주사열(SCAN CHAIN)을 갖는 회로에 대한 결정론적 BIST의 테스트패턴 생성 장치에 있어서, 탭 컨피규레이션(AP CONFIGURATION) 커버하는 결정론적 테스트패턴의 수를 저장하는 컨트롤 비트 저장 수단(CONTROL BITS STORING MEANS), 컨트롤 비트 저장 수단의 저장 값을 하나씩 받아서 반대방향(BACKWARD)으로 카운트하는 패턴 카운터 수단(PATTERN COUNTER MEANS), 현재의 탭 컨피규레이션의 순서를 추적하여 패턴 카운터의 값이 1을 지날 때 마다 1씩 증가하는 컨피규레이션 카운터 수단, 컨피규레이션 카운터 수단의 값에 따라서 상 쉬프팅 네트웍(PHASE SHIFTING NETWORK)을 구성하며, TAPCONNI에 따라서 XOR게이트의 입력 신호를 결정하는 디코더 및 그 신호를 받아 실제의 위상천이기를 구성하는 재구성 가능한 위상천이기로 구성되는 위상천이기를 이용한 결정론적 테스트패턴 생성 장치. * 개발배경많은 수의 테스트 패턴을 인가할수록 고장 검출률이 상승하게 되나 상대적으로 긴 테스트 시간을 필요로 하게 되고, 반대로, 적은 수의 테스트 패턴을 인가할 경우에는 짧은 테스트 시간만을 필요로 하게 되지만 상대적으로 고장 검출률이 낮아지게 되는 문제가 생긴다* 중요성및 독창성다중 주사열환경에서 짧은 테스트 시간에 높은 고장 검출률을 달성할 수 있는 결정론적 BIST는 재구성 가능한 위상천이기(reconfigurable phase shifter)를 이용하면 가능하다는 결론을 얻게 되었다. 따라서 결정론적 테스트패턴을 생성하는 하드웨어로서 M-sequence에 바탕을 둔 위상천이기의 원리를 사용하는, 결정론적 테스트패턴 생성장치를 제공하는 것이다* 적용제품 및 관련시장테스트패턴 생성 장치* 주요적용제품위상천이기* 특징및 장점테스트패턴을 인가하는 로직 BIST의 경우, 어느 정도의 PSEUDORANDOM 테스트 패턴을 인가한 후에 결정론적 테스트패턴을 인가하게 된다. 즉 이 경우에는 PSEUDORANDOM BIST와 결정론적 BIST의 하드웨어를 둘 다 갖추어야 한다. 위상천이기는 일반적으로 거의 모든 PSEUDORANDOM BIST에 사용되는 하드웨어이다. 그러므로 위상천이기를 결정론적 BIST에 사용하는 것은 동일한 기능 블록을 공유하는 것이므로 면적 효율적 방법이다. 또한 결정론적 패턴 생성 하드웨어는 M-시퀀스의 윈도우 프로퍼티(WINDOW PROPERTY)를 이용하므로 기존의 방법과는 다르게 현재 LFSR의 패턴이 어떤 것이든 상관없이 모든 결정론적 테스트패턴을 생성할 수 있다. 그러므로 기존의 방법과는 다르게 빠른 시간안에 필요한 패턴을 생성할 수 있다.