일반기술

광 조형 장치의 초점 거리 측정 장치

*원리 및 구성광 조형 장치에 관한 것으로, 반도체 레이저, 두 개의 반사 미러 및 광 검출기를 이용하여 광 경화성 수지의 높이 및 광 조형 장치의 수평 정도를 측정할 수 있는 광 조형 장치의 수평 및 광 경화성 수지 높이 측정할 수 있다.*개발배경반도체 레이저, 두 개의 반사 미러 및 광 검출기를 이용하여 광 경화성 수지의 높이 및 광 조형 장치의 수평 정도를 측정할 수 있는 광 조형 장치의 수평 및 광 경화성 수지 높이 측정 장치를 제공하는 것이다.*중요성 및 독창성광 조형 장치를 이용하여 수 십∼수 백 마이크로 미터의 크기를 갖는 매우 작은 제품을 만들기 위해서는 레이저 빛에 대한 초점을 만들어야 할 필요성 때문에 광 조형 장치의 수평 정도 및 렌즈의 초점 거리를 정확히 제공하는 분야에 응용 가능한 기술이다.*응용분야히 광 경화성 수지의 높이 및 광 조형 장치의 수평 정도를 측정할 수 있는 광 조형 장치의 수평 및 초점 거리 측정 장치 등에 응용이 가능하다.*특징 및 장점- 광 조형 장치의 수평 정도 및 광 경화성 수지의 높이를 정확하게 측정하여 광 경화성 수지의 위치를 조정하여 초점 거리와 광 조형 장치의 수평을 정확하게 맞출 수 있는 효과가 있다.- 초점 거리와 광 조형 장치의 수평을 정확하게 맞춘 후에 광 조형 장치의 레이저를 이용하여 광 경화성 수지를 성형함으로써, 미세한 제품을 정확하게 성형할 수 있는 효과가 있다.