일반기술
플렉시블 OLED 디스플레이 패널의 분석 시스템
▣본 기술은 플렉시블 OLED 디스플레이 패널의 특성 분석 장치와 S/W, 그리고 분석 기법 등을 포함한 시스템에 관한 기술 특허*를 제공하며, 플렉시블 OLED 소자를 구부리거나 휘듯이 변형된 형태로 구동하는 과정에 나타나는 밝기의 감소 현상과 밝기, 구동 전류와 관련된 다양한 특성을 평가하는 기술이다. 본 시스템은 변형된 기판의 변형률에 대한 피드백 모듈과 센서와 측정 장치를 포함한 광학계, 마이크로 모터 장치를 사용하여 대면적 두루마리 디스플레이부터 플렉시블 OLED 소자의 화소까지 발광 특성을 정밀하게 측정하는 장치이다. 이 장치와 본 연구팀이 제공하는 기술을 통해, 실제로 다양한 물리적 파라메타들, 즉, 접촉저항, 발광문턱전압, 양자효율, 색온도, 연색성, 색순도, 발광균일도 등을 변형률에 따라 분석하는 알고리즘을 제공할 수 있고, 플렉시블 OLED 디스플레이 패널의 최적화 및 신뢰성을 높이는데 기여할 수 있다.▣독창적인 신기술 : 플렉시블 OLED 디스플레이 패널이 변형된 상태에서 발광특성 측정시스템으로 특성 측정 동안에 휘도 변화, 발광표면상태 등을 실시간으로 관찰할 수 있음. ▣유사기술의 특허 및 연구결과에 대한 조사내용 : 일반적인 OLED 발광특성의 분석과정은 한 평면 내에서 X, Y, Z 축 방향으로 이동 가능한 휘도계를 사용하여 전류 및 전압의 변화량에 따른 휘도 변화량을 측정하는 것. 이것은 휘도계를 사용하여 평판형 디스플레이 패널을 측정하는 것이기 때문에 구부러져 있거나 인장상태의 플렉시블 OLED 디스플레이 패널의 휘도를 정확히 조사하는 것이 불가능함. 플렉시블한 디스플레이 패널에서 나타나는 스트레스와 발광특성의 상관관계를 관찰하기 위해서 변형된 상태에서 변형률을 고려하고 보정하여 휘도를 측정 및 분석할 필요가 있음 (출원번호: 10-2001-0075499, 공개번호: 특2003-0044661)▣기존(선행)기술과 비교하여 유리한 점 : 본 기술에서는 휘거나 변형된 상태의 플렉시블 OLED 디스플레이 패널에 대해 변형률을 실시간으로 피드백하면서 휘도 및 물리 파라메터들의 변화를 분석하고 mapping하는 기술을 제공함.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국전자통신연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2006-04-21
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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