일반기술
X-ray 광학의 사용을 기초로 한 현미경 X-ray 형광 단층 사진술을 위한 방법 및 장치의 개발
시료에 초점을 맞춘 X-ray 빔을 주사하므로서 얻어진 X-ray 형광 신호의 처리를 기초로 하여 시료에 몇몇 혼합물의 분포의 3D 재구성을 위한 비파괴법을 개발하기 위해서 제안한다. 이것은 시료를 회전시킬 필요가 없는 방법을 포함한다. 혼합물은 시료에 연속적으로 분포되어 있거나 일련의 입자 혹은 덩어리 형태로 되어 있다. 현재 X-ray 형광 신호 형성의 몇 가지 모델이 공간적으로 분포된 비균질성이 있는 물체를 포함하고 있는 각종의 대상물에 대해서 개발되었다. 몇 가지 접근법이 해당하는 반대의 문제를 해결하기 위하여 고안되었다. 표면 근처 층의 비파괴 분석을 위한 가능성이 bulk 시료에 대하여 수립될 것이며 여기에 전통적인 단층사진술은 적용될 수 없다.
기술정보
- 기술분류
- 재료 > 기타 금속재료
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2000-04-24
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.