일반기술

모폴로지 기법을 이용한 TFT- LCD 결함 검출 및 분류 방법

TFT-LCD 패널의 결함 검사에서 카메라를 이용하여 영상을 추출하고 이를 분석처리하는 TFT-LCD 패널의 결합분류 방법에 있어서, 상기 TFT-LCD 패널에 블랙,레드,그린,블루,그레이,화이트 등의 여러가지 패턴신호를 가하는 단계와, 상기 블랙, 레드, 그린, 블루, 그레이, 화이트 등의 패턴신호에 따라 나타나는 TFT-LCD 패널의 여러가지 영상을 상기 카메라를 통해 취득하는 단계와, 상기 카메라를 통해 입력받은 영상을 마스크와 모폴로지 기법을 이용하여 LCD 패널의 결합을 검출하는 단계 및 상기 검출된 결함을 여러가지 패턴별로 분석하여 해당 결함의 종류를 분류하는 단계를 포함하여 이루어지는 TFT-LCD 패널의 결함 및 분류방법을 제공하여, 기존의 육안검사로서 수행되어졌던 TFT-LCD 검사공정에서 발생하는 시간지연이나 불확실성을 해결하고, 카메라를 이용한 자동검사가 가능하게 하면서 일정한 검사 품질 유지 및 기존의 검사 방법보다 더욱 향상된 검사 성능을 얻을 수 있는 효과가 있다.TFT-LCD 패널의 결함 검사에서 카메라를 이용하여 영상을 추출하고 이를 분석처리하는 TFT-LCD 패널의 결함 분류 방법에 있어서, 상기 TFT-LCD 패널에 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 여러가지 패턴 신호를 가하는 단계와, 상기 BLACK, RED, GREEN, BLUE, GRAY, WHITE 등의 패턴 신호에 따라 나차나는 TFT-LCD 패털의 여러 가지 영상을 상기 카메라를 통해 취득하는 단계와, 상기 카메라를 통해 입력받은 영상을 마스트와 모폴로지 기법을 이용하여 LCD 패널의 결함을 검출하는 단계 및 상기 검출된 결함을 여러가지 패턴별로 분석하여 해당 결함의 종류를 분류하는 단계를 포함하여 이루어지는 TFT-LCD 패널의 결함 및 분류 방법을 제공하여, 기존의 육안 검사로서 수행되어졌던 TFT-LCD 검사공정에서 발생하는 시간 지연이나 불확실성을 해결하고, 카메라를 이용한 자동 검사가 가능하게 하면서 일정한 검사 품질 유지 및 기존의 검사 방법보다 더욱 향상된 검사 성능을 얻을 수 있는 효과가 있다.

기술정보

기술분류
전기·전자 > 기타 전기/전자
보유기관
호서대학교
기술유형
일반기술
등록일
2006-05-12
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

관련 특허

등록된 관련 특허가 없습니다.