일반기술
센싱부가 다중화된 광전류 측정장치
*원리 및 개요본 기술은 도선 주위를 감는 광도파로 센싱부의 권취 횟수를 달리하여 다중화함으로써 전류 측정범위 및 정밀도를 가변할 수 있으며, 집적된 형태로 구성함으로써 손실을 줄이고, 외부 진동 등의 영향을 없앨 수 있는 센싱부가 다중화된 광전류 측정장치를 구현하는 것이다.또한 .도선 주위를 감는 광도파로 센싱부의 권취 횟수를 달리하여 다중화함으로써 전류 측정범위 및 정밀도를 가변하고, 집적된 형태로 구성함으로써 손실을 줄이고, 외부 진동 등의 영향을 없에는 것을 특징으로 한다.*본 기술의 장점첫째, 대부분의 산업용 센서를 수입에 의존하고 있는 현 상황에서 본 발명은 수입대체 효과 및 수출 기대로 해당분야에 파급 효과가 클 것으로 예상된다.둘째, 대량생산, 소형화가 용이한 평판 도파로를 이용하기 때문에 상품화에 크게 유리할 것으로 예상되어진다.셋째, 기존의 광전류 측정장치에 비해 전류 측정범위 및 정밀도를 다양하게 할 수 있다는 이점이 있으며 또한, 집적된 형태로 구성함으로써 손실을 줄이고, 외부 진동 등의 영향을 없앨 수 있다는 장점이 있어 기대효과가 클 것으로 예상된다
기술정보
- 기술분류
- 물리학 > 광자학
- 보유기관
- 성균관대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2006-05-30
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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