일반기술
광대역 조정가능 스캐닝 Fabry-Perot 간섭계의 개발 및 제작
다양한 광역 스펙트럼 범위(가시광선과 10미크론까지의 자외선 범위)에서 보편적인 스펙트럼 장치의 개발에 대한 규정은 이미 만들어져 있다. 우리는 2-4 미크론에서 자외부까지 실용적으로 중요한 간섭계 제작기술을 발전시키려는 계획을 가지고 있다. 설계된 장치는 간섭계의 베이스를 0.5mm에서 150mm까지0.1-0.2초의 정확도 내에서 나머지 거울 병렬계산으로 연속적으로 조정할 수 있고, 5nm의 정확도로 5미크론의 범위 내에서 베이스를 스캔할 수 있도록 해줄 것이다. 작용 표면은 1/100 λ( λ= 0.63 미크론)의 평평도와 전체 스펙트럼 범위에 대하여 85%의 반사율을 가지도록 표면처리한다. 간섭계의 투과율은 전체 스펙트럼 범위에 대하여 94%의 투과성을 가진다. 간섭계는 두 가지 형식으로 사용할 수 있을 것이다. 정밀한 코너 반사기를 되도록 사용하지 않도록 하는 추가 선에 대한 1 경로와 3경로 형식이 그것이다.보편적인 스펙트럼 장치는 복사광의 주파수 파라미터의 작동조절(실시간 스케일에서 가능) 뿐 아니라 스펙트럼선의 작동 분석 및 구성 조절을 목적으로 한다. 예를 들어 자유전자레이저에서 설계된 장치를 사용하면 필요한 스펙트럼 범위에서 좁은 스펙트럼선을 모을 수 있을 것이며, 레이저 화학과 기초 분광학 연구에서 적용되는 문제를 풀기 위하여 그 주파수를 즉시 조절할 수 있을 것이다.
기술정보
- 기술분류
- 물리학 > 기타 광학
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2000-04-24
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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