일반기술

금속재의 결함검출 장치 및 방법

본 발명은 금속재의 결함검출장치 및 방법에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 금속기기나 구조물을 사용하고 있는 공정산업 등에서 비파괴의 방법으로 작업물의 결함을 검출할 수 있는 금속재의 결함검출장치 및 방법에 관한 것이다. 일반적으로 금속재의 결함은 방사성 물질, X-선 등을 이용하는 비파괴 결함검출장치를 이용하여 측정된다. 그러나 이 결함검출장치들은 고가이며, 위험 물질을 취급하기 때문에 많은 문제점을 가지고 있다. 그리고 이 결함검출장치들을 이용한 금속재의 결함검출을 위해서는 작업공정의 전면적 또는 부분적인 정지가 수반되어야 하므로 소요되는 시간적, 경제적 비용 등으로 인해 실제 작업공정에서 측정을 제한하고 있는 것이 현실이다. 한편 최근 열그래프 결함검출기술의 발전은 이와 같은 비파괴 결함검출장치의 문제점을 해결하는데 많은 도움이 되었다. 열그래프를 이용한 결함검출장치는 복합재료, 판재, 열차단 코팅 등에서 재료들의 결함을 검출하는데 사용되고 있다. 그러나 이와 같은 열그래프 결함검출에 사용되어지는 적외선 카메라는 고가이며, 제한된 영상 해상도는 작은 크기의 금속재의 결함을 검출하는데는 적절하지 못하다.[발명이 이루고자 하는 기술적 과제]본 발명은 이와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 그 목적은 종래 금속재의 결함을 검출하기 위해 방사성 물질, X-선 등을 이용하는 비파괴 결함검출장치보다 저가이면서 안정적인 방법으로 금속재의 결함을 검출할 수 있는 새로운 형태의 금속재의 결함검출장치 및 방법을 제공하는데 있다. 또한 본 발명의 목적은 열그래프를 이용하면서도 종래 열그래프를 이용한 금속재의 결함검출장치보다 저가로 제작할 수 있는 새로운 형태의 금속재의 결함검출장치 및 방법을 제공하는데 있다. [발명의 효과]본 발명에 의한 금속재의 결함검출장치 및 방법에 의하면, 본 발명에 따른 금속재의 결함검출장치 및 방법은 적외선 온도센서를 구비하는 센서모듈을 이용하므로 적외선 카메라에 비해 저가로 구성할 수 있다. 이와 같은 금속재의 결함검출장치는 금속재의 결함을 검출함에 있어 염가로 제작하여 사용할 수 있는 장점이 있고, 다른 비파괴 결함검출 장치가 가지는 비용과 시간적인 문제를 해소하여 많은 공정산업에서 금속재의 결함 검출에 사용이 가능하다. 특히 본 발명에 따른 금속재의 결함검출장치는 종래 금속재의 결함검출장치가 시간적, 경제적 비용이 많이 들며, 방사성 물질 등 위험물질을 취급하기 때문에 실제 산업용으로의 활용에 많은 제약을 가진 문제점을 해결한 것으로, 열그래프 결함검출기술을 이용하기 때문에 실제 공정중의 온라인 측정이 가능하며, 공정의 조업정지 등이 수반되지 않으므로 많은 부분에 적용될 수 있다.

기술정보

기술분류
화학 > 기타 화학
보유기관
동아대학교
기술유형
일반기술
등록일
2006-05-18
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

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