일반기술

ＱＣ 프로브를 포함하는 마이크로어레이 및 그 제조방법

본 발명은 마이크로어레이의 품질검사용 QC 프로브, 상기 QC프로브와 표적프로브를 지지체에 고정하는 것을 특징으 로 하는 마이크로어레이의 제조방법 및 상기 QC 프로브를 이용한 마이크로어레이의 품질검사 방법에 관한 것이다. 더욱 구체적으로는 형광물질로 표지된 QC 프로브와 표적 프로브를 일정 비율로 혼합하여 마이크로어레이의 지지체 에 고정하여 마이크로어레이를 제조하는 방법, 상기 제조된 마이크로어레이를 이용하여 표적 프로브와 표적 산물과의 혼성화 반응 전 또는 후에 상기 형광물질에서 발생하는 형광신호를 스캐닝하여 프로브의 고정화 상태를 검증하는 것 을 포함하는 마이크로어레이의 품질을 검사하는 방법 및 상기 마이크로어레이의 품질검사에 사용되는 QC 프로브에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 마이크로어레이의 지지체에 고정된 프로브 각각에 대한 고정화 여부와 고정화된 프로브의 모양과 농도 등에 대한 검증, 표적 프로브와 표적 산물의 결합 반응 또는 혼성화 반응에 대한 검증이 가능하다. 본 발명에 의 한 QC 프로브를 함유하는 마이크로어레이를 혼성화 반응에 이용할 경우, 마이크로어레이를 이용한 실험 과정 및 결 과 분석의 신뢰도를 증가시킬 수 있다. 또한, QC 기능이 포함된 표적 프로브 사용으로 마이크로어레이 제작과정이 더 욱 간편화되었다.형광물질이 표지된 QC 프로브를 이용한 마이크로어레이의 품질검사 방법은, 한번의 스 팟팅으로 실험하고자하는 표적 프로브의 고정화 상태와 마이크로어레이 마다의 각 프로브의 균일성, 모임 현상, 먼지, 도우넛 현상 등 스팟 모양 및 상태를 분석할 수 있다. QC 프로브 하나로 혼성화 반응뿐만 아니라, 지지체 표면 위의 표적 프로브를 간단하고 정확하게 검증할 수 있다. 즉, 기존의 혼성화 반응을 위한 프로브는 단지 표적 염기서열과 서 로 상보적인 서열을 가지도록 고안되어 혼성화 반응에만 프로브가 이용되었지만, 본 발명에서 고안 된 프로브는 기존 의 일반 혼성화 반응은 물론 형광물질의 표지로 지지체에 부착된 프로브의 검증이 가능하며, 형광염료가 표지된 표적 프로브 만으로 표적 프로브의 고정화 및 표적 산물과의 혼성화 반응 실험을 수행할 수 있어 간편한 조작 방법의 효과 를 얻을 수 있었다. 혼성화 반응 위한 형광물질과 파장이 서로 다른 형광물질을 QC 프로브에 표지 하므로 혼성화 반 응 후의 프로브 검증이 가능하다. 이에 실험 과정상의 문제점등을 파악할 수 있어 결과 분석을 더욱 정확하게 할 수 있다. 따라서 본 발명은 마이크로어레이의 프로브에 대한 고정화 여부 및 상태 대한 검사와 혼성화 반응 과정에서의 여러 가지 영향에 대한 검사 등 마이크로어레이의 제조 및 품질검사에 대해 경제적이며 신속·정확하게 효과적으로 사용될 수 있다.