일반기술

IEEE 1149.1과 P1500의 이종 코아를 가진 시스템 온 칩에서의 연결선 지연 고장 점검 테스트 제어기

*원리 본 발명은 인가(Update) 동작부터 캡쳐(Capture) 동작까지 1 시스템 클럭이 걸리도록 하여 코아들 사이의 연결선 상에서 지연 고장 점검 테스트가 가능하도록 하고, IEEE 1149.1에 완전히 호환되도록 하여 IEEE 1149.1과 P1500에서의 표준 명령어인 EXTEST와 명령어만 틀릴 뿐 TMS 신호는 같도록 하여 지연 고장 점검 테스트를 용이하게 하고, 시스템 온 칩(SoC) 상에 서로 다른 코아들 중 IEEE 1149.1로 이루어진 코아와 P1500 래퍼로 이루어진 코아가 함께 있을 시에 정적인 고장 점검 테스트 뿐 아니라 지연 고장 점검 테스트도 수행할 수 있는 테스트 제어기를 제공하는 것이다.*독창성 보드 수준에서 칩 테스트만이 가능하였던 것을 시스템 온 칩 수준에서 IEEE 1149.1구조 코아와 P1500 구조의 코아가 존재하는 즉 이종코아 상에서 테스트 할 수 있도록 한 것으로 IEEE 1149.1의 탭 제어기의 TMS 신호 변경이 전혀 필요없고, 테스트 클럭과 시스템 클럭의 동기화가 맞추어지지 않거나 4배수가 아니어도 지연고장을 점검할 수 있다.*적용분야 및 시장성 IEEE 1149.1이 칩의 표준으로 된 후 모든 칩에는 IEEE 1149.1이 달려있고 시스템 온 칩 또한 칩이기 때문에 표준이 적용된다. 그런 칩 상태에서 IEEE 1149.1을 이용하여 이종 코아가 있는 시스템 온 칩(SoC) 상에서 정적인 고장 점검 테스트와 at-speed 테스트를 가능하게 하여 테스트 비용을 절감하며 시스템 온 칩(SoC) 상에서 여러 가지 다양한 테스트를 쉽게 할 수 있는 효과가 있으므로 시스템 온 칩 테스트에 많은 도움을 줄 것이다. *특징 본 발명은 IEEE 1149.1 과 P1500 의 이종 코아가 있는 시스템 온 칩 상에서 각 코아들의 정적인 고장 점검 뿐만 아니라, 이종 코아들의 연결선상에서 지연고장 점검이 가능하도록 하며, 지연 고장 점검을 위해 데이터가 인가된 후 1시스템 클럭 후에 캡쳐할 수 있도록 하면서 테스트 방법을 용이 하게 할 수 있도록 하였고 데이터 셀의 변경은 필요없이 탭 제어기만 변경할 수 있도록 하여 최소한의 회로 변경을 요구한다.