일반기술

위상지연값 자동 측정을 위한 시편-보상기 복합 회전형 분광타원해석기

본 발명은 광학적 비등방 물질에서의 위상지연값 측정장비에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 광학적인 단일 광축을 가진 비등방성 투명시편에 있어 투과시 입사한 빛의 편광방향에 따른 위상지연차를 측정할 수 있는 광측정 장치에 관한 것이다. 본 발명의 목적은 기존의 회전편광기형 또는 회전분석기형 타원해석기에다가 회전하는 보상기와 회전하는 시편장착대를 부착시켜 회전시키되, 그 회전비를 일정 비율로 동기화시킴으로 해서 시편의 위상지연 값과 광축방향을 캘리브레이션 과정없이 자동적으로 측정하고자 하는데 있다. 상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 시편-보상기 복합회전형 타원해석기는 광원인 발광부와 고정된 편광기, 일정속도 또는 각도로 회전하는 보상기, 그리고 보상기와 다른 비율의 속도 또는 각도로 회전하는 시편장착대, 고정된 편광기, 분광기, 그리고 다중채널 검출기가 장착된 수광부로 구성이 된다.편광을 이용하여 투명 복굴절 시편의 위상지연값을 측정하는 장비의 새로운 구조 및 작동원리에 관한 것이다. 시편과 보상기를 특정 각속도비로 회전하도록 한 원리로써 시편이 지닌 위상지연값을 자동으로 측정해 내도록 하고 있다. 복잡한 광부품 제어용 콘트롤러가 없이 제작이 가능하고 또한 다중채널검출기를 도입함으로써 빠른 시간안에 넓은 파장영역의 값을 정확하게 측정해 내도록 하고 있다. 일반적으로 위상지연값을 측정하기 위해서는 해당 장비에 사용하는 광부품의 위치각을 찾아내어야 하는 선행측정과정이 필요한데, 이 과정은 측정 시간이 많이 걸리고, 각종 실험오차를 내포하는데 본 발명에서는 원리상 이 모든 단점을 배재하고 있다.