일반기술

저전력을 고려한 테스트 패턴 압축기법

본 발명은 자동화 테스트 장비(Automatic Test Equipment, ATE)를 사용하여 테스트를 수행할 때 테스트에 소모되는 전력과 공간 비용을 줄이기 위한 저전력 테스트 압축기법에 관한 것이다. 이를 위하여, 본 발명은 테스트 패턴에 세 단계에 걸쳐서 수행하는 압축기법을 제안한다. ATPG에 의해 생성된“Don't Care”가 존재하는 패턴에 회로 내의 스캔으로 입력되는 방향을 고려하여“Don't Care”의 값을 할당한다. 이는 스캔으로 입력되는 동안의 트랜지션의 수를 감소시켜 최종 전력 소모를 줄이게 한다. 또한 본 발명에서는 저전력을 고려하여“Don't Care”를 할당한 패턴에 대해 0/1 런랭쓰 인코딩과 허프만 인코딩이 차례로 적용되는 하이브리드 인코딩을 통해 높은 압축 효율로 압축된 새로운 패턴을 얻을 수 있다. 이렇게 압축된 패턴을 테스트 시에 사용함으로써 테스트에 필요한 시간적, 공간적 비용을 절약할 수 있다. 특히, 본 발명에서 제안하는 방법은 기존의 압축 기법의 효율이 떨어지는 0과 1이 분포가 균등한 패턴에 대해서도 높은 압축률을 보일 수 있다는 특징을 갖고 있다제안된 방법을 사용하면, ATPG에 의해서 생성된 테스트 패턴을 스캔방향에 대한 트랜지션의 수가 적도록 “Don't Care”를 할당하여 전력 소모를 줄일 수 있고, 패턴에 제안된 방법의 압축기법을 사용하여 높은 압축 효율을 보이는 패턴으로 압축할 수 있다. 다른 압축 기법의 압축 효율이 떨어지는 0과 1의 분포가 균등한 패턴에 대해서도 높은 압축 효율로 압축할 수 있다. 자동화 테스트 장비를 사용하여 테스트를 수행할 때 인가되는 테스트 패턴의 크기를 크게 압축 시킬 수 있기 때문에, 인가되는 데 거리는 시간과 테스트 패턴이 저장되어지는 공간의 절약이 가능하다. 이렇게 감소된 시간, 공간적 비용은 칩의 단가가 감소하는 효과를 보이게 된다.