일반기술

아이피 코아들로 구성된 시스템 온 칩 테스트를 위한 개선된 탭연결 모듈장치

본 발명은 IP 코아들로 구성된 시스템 온 칩(System-on-Chip:SoC) 테스트를 위한 개선된 탭 연결 모듈(TAP Linking Module:TLM) 장치에 관한 것으로, 특히 IEEE 1149.1 표준 바운다리 스캔이 구현되어 있는 IP 코아들을 동적으로 다양하게 연결시키는 SoC(System-on-Chip)를 테스트를 용이하게 해 주는 IP 코아들로 구성된 SoC 테스트를 위한 개선된 TLM 장치에 관한 것이다. 본 발명을 통해 보드 테스트 표준인 IEEE1149.1을 변경하지 않고 사용함으로서 설계시간을 단축하고, 테스트 시에 IP 코아들을 동적으로 모든 연결을 할 수 있고 개별적인 IP 코아테스트 및 IP 코아간의 연결선 점검 또는 보드 상에서의 칩(SoC) 테스트를 효율적으로 할 수 있다.본 발명은 마이크로 컨트롤 유니트(MCU), DSP IP 코아 등에 구현되어 있는 보드 테스트를 위한 표준인 IEEE 1149.1 표준 바운다리 스캔이 구현되어 있는 IP 코아들로 구성된 보드상의 칩(System On Chip:SoC) 테스트용 탭(TAP1)과, 탭의 코어에 코어 경계 스캔 레지스터를 구비한 코아 테스트용 탭들(TAP2, TAP3, TAP4)을 구비한 시스템에 있어서: 상기 보드상의 칩(SoC)의 하단에 위치하여 SEL_TLM, TDI(Test Data In), TCK(Test Clock), TMS(Test Mode Sequence), TRST*(Test Reset),TDO(Test Data Out)를 입력받아 각 탭들을 동적으로 모든 연결을 제어하도록 SCE_EN, ENA 신호, Reset* 신호를 제공하는 탭 연결 모듈(TLM); 및 상기 탭 연결 모듈(TLM)로부터 SCE_EN, ENA 신호를 입력받아 각 TAP에 입력으로 들어가는 TMS(Test Mode Sequence) 신호를 게이티드 온 오프함으로써 비활성화시킬 TAP에 대해서는 강제적으로 Run-Test/Idle 상태에 놓고, 활성화될 TAP은 상기 탭 연결 모듈(TLM)에 입력되는 TMS가 그대로 입력되므로 상기 탭 연결 모듈(TLM)과 같은 상태천이를 가지도록 각 탭(TAP1, TAP2, TAP3, TAP4)들을 활성화 또는 비활성화 시키기 위해 TMS 신호를 각 탭으로 제공하는 상태 조건 확장자들(SCE1, SCE2, SCE3, SCE4)로 구비되는 것을 특징으로 하는 IP 코아들로 구성된 시스템 온 칩(SoC) 테스트를 위한 개선된 탭 연결 모듈(TLM) 장치를 제공한다.