일반기술

단일 입자 질량 분석기

본 발명은 단일 입자 질량 분석기에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 이온의 포커싱 효율을 높임으로써 비행시에 이온이 비행튜브 벽면과의 충돌에 의해 손실되는 량을 줄여 이온검출기에 의한 측정 효율을 향상시킬 수 있도록 개선된 단일 입자 질량 분석기에 관한 것이다. 본 발명은 이온이 과당 포커싱되거나 비행 튜브 내벽에 충돌하여 소멸됨이 없이 검출기에 도달할 수 있도록 함으로써 측정 효율을 향상시킬 수 있는 단일 입자 질량 분석기를 제공하는데 그 목적이 있다.본 발명의 특징은 다음과 같다. 본 발명의 단일 입자 질량 분석기에 따르면 레이저에 의해 방출된 이온들을 효과적으로 집속시킴으로써 비행 튜브 등의 내벽에 부딪혀 손실됨이 없이 이온검출기에 도달할 수 있도록 하고 그에 따라 측정 효율을 향상시킬 수 있다. 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면을 참조로 설명되었으나 이하 특허청구 범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상의 범위 내에서 다양한 변형예가 있을 수 있는 것으로 이해되어야 한다.