일반기술

JTAG을 이용한 테스트 시스템의 성능 향상방법 및 이를 수행하기 위한 시스템

* 구성 및 원리 본 기술은 JTAG을 이용한 테스트 시스템의 성능 향상 방법 및 이를 수행하기 위한 시스템에 관한 것으로, 특히 JTAG 기반의 테스트 진행과정에서 명령어저장과정에서 불필요한 클럭소모를 제거하여 JTAG기반의 테스트 시스템의 성능을 향상시키기 위한 JTAG을 이용한 테스트 시스템의 성능 향상 방법 및 이를 수행하기 위한 시스템에 관한 것이다. 본 기술은 AP 콘트롤러의 전단에 명령어 처리모듈을 포함하여 형성되는 JTAG 기반의 테스트 시스템의 제어방법에 있어서, 명령어 처리모듈에서 TMS 핀의 입력을 내부의 이네이블 핀으로 입력받아 TMS 핀의 입력이 '1' 상태일 때에는 TDI 핀를 통하여 입력되는 신호가 명령어임을 인식하고 이를 명령레지스터에 저장하도록 동작하고, TMS 핀의 입력이 '0' 상태일 때에는 이를 무시하도록 동작되는 단계를 갖도록 하는 명령어 저장과정을 TAP 콘트롤러가 제어신호를 발생시키기 이전에 수행하도록 동작되는 것이다.* 기술적 배경 JTAG를 이용하여 직렬 테스트하는 일반적인 개념은 집적 회로 소자 내부에 내장된 회로로부터 소정의 출력 신호들을 발생시키기 위해 다수개의 집적회로 소자들 내부로 직렬 데이터를 쉬프트 시키는 것이다. 그런다음, 집적 회로 소자들에 의해 발생되거나, 집적 회로 소자의 입력핀들로 받아들여지는 데이터는 집적회로 소자에서 JTAG 마스터 테스트 회로로 쉬프트된다. 만약, JTAG 마스터 테스트 회로로 돌아온 데이터 스트림이 예상된 것과 다른 편차가 존재한다면, 테스트 회로에 의해 회로 내의 오동작이 검출되므로, 소프트 웨어의 제어하에 데이터 스트림에 존재하는 편차들을 신중하게 분석하면 회로내에 존재하는 어떠한 오동작도 분리해낼 수 있다.* 독창성 및 우수성 본 기술의 JTAG을 이용한 테스트 시스템의 성능 향상방법 및 이를 수행하기 위한 시스템은 불필요한 클럭소모를 50% 이상 감소시킨 다는 점에서 기술적 우수성이 있다고 할 수 있다.* 적용제품 및 관련시장 본 기술의 JTAG을 이용한 테스트 시스템의 성능 향상방법 및 이를 수행하기 위한 시스템은 컴퓨터 산업분야와 컴퓨터를 이용한 시스템 처리 분야에 적용될 것으로 예상된다. * 특징 및 장점 본 기술의 특징 및 장점은 다음과 같다. 첫째, 명령어 처리모듈이 TAP 콘트롤러에서 제어신호를 발생시키기 이전에 명령어저장과정을 수행하도록 동작됨으로서 불필요한 클럭소모를 방지하여 JTAG을 이용한 테스트 시스템의 테스트 속도 지연등 성능을 향상시키는 효과가 있다. 둘째, 본 기술의 JTAG 기반의 테스트 시스템은 명령어 저장과정에서 5 클럭을 소모함으로서 결과적으로 클럭 소비를 50%로 감소시키는 성능을 나타내었다.