일반기술

전자기파 및 핵 방사선 노출량의 효과적인 관리를 위한 반도체 선량계.

감도를 조절할 수 있는 모니터링 시스템을 탑재하여 전자기파 및 핵 방사선(광선, X-ray, UV 조사, gamma-quanta)의 에너지(선량)를 효과적으로 관리할 수 있는 새로운 형식의 반도체 선량계가 제안되었다. 제안된 검출장치는 방사선 하의 전기장 강도를 특수한 형식의 반도체 MIS와 동일한 구조를 갖도록 공간적으로 재배열함으로써 작동한다: (금속(M) 절연가스층(I) 광폭bandgap 절연 반도체 크리스탈(S)). 이 구조에 가해진 DC 전압은 구조를 이루는 층 사이에서 그 용량에 역비례하여 분포한다. 그러므로, 전기장 내 가스층의 강도는 가스의 분해점(gas breakdaown)에 근접한 높은 값을 갖는다. 구조적 방사가 이루어질 때는, 해당 표지의 전하는 가스층 가까이에 있는 결정 부분에 축적되어 구조를 이루는 층 사이에서 인가된 전압의 분포를 바꾸어준다.