일반기술
다이옥신-오염 마커의 검출을 위한 조성물 및 키트
○본 발명은 다이옥신 노출시 발현이 증가 또는 감소하는 다이옥신-오염 마커 검출용 조성물, 키트 및 방법에 관한 것이다.○기술성본 발명은 다이옥신 노출시 또는 다이옥신에 오염되었을 때 발현이 증가 또는 감소하는 다이옥신 오염 검출용 마커를 제공하는 것이다.○사업성본 발명은 다이옥신 오염에 의해 발현이 유의하게 증가 또는 감소하는 다이옥신 오염 진단 마커 단백질을 밝힘으로써 이러한 마커 단백질을 이용하여 다이옥신 오염 여부를 용이하고 정확하게 진단할 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 생명과학 > 면역학
- 보유기관
- 한국생명공학연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2006-05-24
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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