일반기술

LED 광학적 신뢰도시험 장치 제작기술

본 기술은 기존의 신뢰성 시험 장치에 비해 다양한 광학적 변수를 감시할 수 있으며 기구부의 효과적인 설계로 인해 장치를 소형화 할 수 있다. 현재 낮은 LED 발광효율의 한계에도 불구하고 급성장하고 있는 LED 조명산업을 고려할 때, 본 기술은 LED 소자 및 등 기구 관련업체의 많은 수요가 예상되며, LED 발광효율이 100 lm/W을 넘을 것으로 예상되는 2~3년 후에는 폭발적인 수요 증가가 예상된다. 칩 형태의 LED를 비롯한 LED로 만들어진 여러 종류의 등기구의 수명 평가 및 신뢰도시험에 직접 활용할 수 있음. 광통신, 조명, 디스플레이기기 등에 널이 쓰이고 있는 LED의 기능은 광 방출에 있기 때문에 광출력 수명을 비롯한 광학적 신뢰성은 제품 개발단계에서 반드시 평가되어야 한다. 본 기술은 LED 신뢰성 테스트에 적합하도록 설계한 시험 LED 배치를 위한 기구부 및 조도계와 분광 복사 조도계를 이용한 광특성 감시방법, 데이터 수집계의 구성을 담고 있으며, 구동 소프트웨어도 함께 포함되어 있다. 칩 형태의 LED를 비롯한 LED로 만들어진 여러 종류의 등기구의 수명 평가 및 신뢰도시험에 직접 활용할 수 있음.

기술정보

기술분류
전기·전자 > 반도체 소자 (B63)
보유기관
한국표준과학연구원
기술유형
일반기술
등록일
2006-05-23
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

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