일반기술
단색광원 장치 제작 기술
길이 및 각도분야에서 사용하고 있는 정밀측정기기 및 치구를 교정 할 때 교정 항목 중 평면도 및 평행도와 관련되는 양을 구하기 위하여 사용하는 대표적인 측정기로는 시준기 및 수준기 그리고 단색광원장치와 조합을 이룬 옵티칼플랫이 있다. 그중에서 시준기와 수준기는 크기의 제약을 받아 정반과 같이 넓은 면의 평면도 측정에 사용되어지고 있다. 옵티칼플랫은 단색광원 장치의 평행한 단색광 아래에 게이지블록의 면 위에 옵티칼플랫의 측정면을 겹쳐놓으면 간섭무늬를 관찰할 수 있으며 이로부터 평면도를 구할 수 있어 같은 방법으로 마이크로미터의 엔빌면 과 스핀들면의 평면도 및 평행도를 손쉽게 측정 할 수 있다. (단색광이 아닌 다른 자연광에서는 여러 파장이 혼재되어 선명한 간섭무늬를 관찰하기가 어렵다)- 단색광원장치의 광원은 상용의 저압 나트륨등과 안정기 및 전원 연결용 소켓을 사용 하여 제작한다. - 단색광원장치 케이스 : 목재를 기본으로 하여 제작함. 확산판은 광원에서 나온 빛이 넓은 면에 걸쳐 확산되도록 아크릴판의 양면을 연마 하여 사용함.- 발광파장 측정 : 단색광원장치의 발광파장을 측정하기 위하여 본 원의 optical spectrum analyzer를 이용하여 측정한다. 광원에서 나온 빛의 스펙트럼은 파장 590.3 ㎚ 안에 집중되어 있으며 중심 파장의 불확도는 ± 1 ㎚ 이다.- 본 장치는 국내에서 생산되거나 구입이 용이한 부품을 사용하여 가간섭이 좋은 단색 광원을 만들 수 있도록 설계되어 있어 수입 가격 보다 저렴한 가격과 좋은 품질의 제품 생산이 가능함. 평면도 및 평행도 측정에 활용 ( 길이측정 관련 게이지나 측정기, 광학부품, 정밀가공품 등)
기술정보
- 기술분류
- 기계 > 교정·시험평가기술
- 보유기관
- 한국표준과학연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2006-05-24
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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