일반기술

긴 게이지블록 비교측정기

본 기술은 500 mm 이상의 긴 게이지블록을 비교 측정하는 장치에 관련된 기술이다. 현재 상용으로 판매되는 장비는 600 mm가 한계인데 수직방향으로 게이지블록을 설치하여 측정하도록 되어 있다. 본 장치는 500 mm 이상의 게이지블록을 기준 게이지블록과 비교하도록 설계되었는데 ISO규정에 따라 게이지블록을 수평으로 설치하여 측정하도록 되어 있다. 두 개의 전기 마이크로미터가 게이지블록의 양 단면에 접촉하여 게이지블록의 크기를 비교 측정하는데 이를 위해 게이지블록의 크기에 따라 전기마이크로미터의 위치를 조절하는 2 개의 수평방향 이동장치, 이에 부착되어 게이지블록 면의 거리를 측정하는 2 개의 전기마이크로미터와 증폭기, 게이지블록을 실어 게이지블록의 위치를 조절하는데 사용되는 micro-stage와 다축 이동기구, 그리고 전기마이크로미터의 신호를 받아 게이지블록의 크기를 계산하는 컴퓨터로 구성되어 있다. 본 장치는 긴 게이지블록을 비교적 쉽고 정확하게 교정하는데 사용할 수 있다. 본 장치는 500 mm 이상의 게이지블록을 기준 게이지블록과 비교하도록 설계되었는데 ISO규정에 따라 게이지블록을 수평으로 설치하여 측정하도록 되어 있다. 두 개의 전기 마이크로미터가 게이지블록의 양 단면에 접촉하여 게이지블록의 크기를 비교 측정하는데 이를 위해 게이지블록의 크기에 따라 전기마이크로미터의 위치를 조절하는 2 개의 수평방향 이동장치, 이에 부착되어 게이지블록 면의 거리를 측정하는 2 개의 전기마이크로미터와 증폭기, 게이지블록을 실어 게이지블록의 위치를 조절하는데 사용되는 micro-stage와 다축 이동기구, 그리고 전기마이크로미터의 신호를 받아 게이지블록의 크기를 계산하는 컴퓨터로 구성되어 있다. 비접촉식이므로 측정장치의 부식, 화학반응 및 흐름의 와류현상 등을 제거할 수 있으며, 유체 특성을 규명하는데 필요한 기타 여러 가지 요소들을 측정 가능하다.비교측정법에 의한 긴 게이지 블록의 치수측정에 활용이 가능함.