일반기술
초음파를 이용한 비접촉식 결함 탐상 기술
기존 탐상기는 접촉식이며 고온, 저온에서 탐상이 불가능 하지만 본 기술은 직접 접촉하지 않고 고온, 저온에서 탐상이 가능함고온, 저온 에서의 결함 탐상, 비접촉식 결함 탐
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 전자부품
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2000-04-29
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.
일반기술
기존 탐상기는 접촉식이며 고온, 저온에서 탐상이 불가능 하지만 본 기술은 직접 접촉하지 않고 고온, 저온에서 탐상이 가능함고온, 저온 에서의 결함 탐상, 비접촉식 결함 탐
정보 없음
등록된 관련 특허가 없습니다.