일반기술
구조물의 평면을 모니터링 하기위한 마이크로파 렉테나 기반의 센서 어레이
본 기술은 모든 일반적 구조물의 크기 및 형태와 무관하게 그 구조물의 표면 평면성 및 만곡도의 변화를 마이크로파 신호를 이용함으로써 원격 감지 및 모니터링할 수 있는 렉테나 기반의 센서 어레이 시스템에 관한 것이다 . 이를 위해 구조물을 모니터링 및 측정하기 위한 마이크로파 렉테나 기반의 센서 어레이 시스템에 있어서, 센서 어레이가 다수의 센서 요소로 구성되어 있으며, 이러한 구성 센서 요소는 렉테나 요소를 보호하기 위한 박막 멤브레인을 포함하고 있으며, 렉테나 요소와 이 박막 멤브레인이 일체를 이루어 센서 요소를 형성하고 있는 렉테나 기반의 센서 어레이 시스템을 제공한다.본 기술의 목적은 상기한 종래 기술의 단점을 해결코자 하는 것으로, 대형 구조물의 형태 변화, 특히 표면을 정확히 모니터링 및 측정하는 것이다.본 기술에 따라서, 구조물의 어떠한 형태 변화도 측정 및 감지할 수 있을 뿐만 아니라 동시에 시간지연이 발생하지 않고 광학성의 차이 및 색상이나 온도의 변화에도 불구하고 이러한 측정 및 모니터링을 정확하게 수행할 수가 있다. 본 발명의 또하나의 특징은 대상 구조물의 어떠한 형상에도 용이하고 신축성 있게 부착할 수 있는 박막형의 신축성 센서 어레이를 제공하는 것이다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 전자부품
- 보유기관
- 인하대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2007-01-03
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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