일반기술

TAB IC 검사용 프로브 카드

종래의 프로브 카드는 메인기판의 하면에 니들이 부착되어 고정되고, 니들과 메인기판의 신호 접속을 위하여 메인기판의 상면에 다수의 신호선을 납땜으로 구비하게 되는데, 이러한 신호선을 각각 별도로 납땜하여 결합하는 작업이 매우 번거롭고 힘든 문제점이 있었을 뿐만 아니라, 니들과 신호선 사이에는 저항이 증가되어 정확한 신호가 전달되지 못하는 경우도 발생하였으며 니들어셈블리를 구성하는 니들을 평행하게 배치하는 것이 매우 힘들어 프로브 카드에 결합되는 니들의 수에 한계가 발생하는 문제점이 있었다.본 발명은 신호선을 연결하지 않고서도 간단한 구조로 빠른 신호 전달이 이루어지도록 한 TAB IC 검사용 프로브 카드를 제공함에 있다.본 발명은 메인기판과 니들에 신호를 연결하는 다수의 신호선을 연결하지 않고서도 간단한 구조로 빠른 신호 전달이 이루어지도록 한 TAB IC 검사용 프로브 카드를 제공함으로서, 신호선을 각각 납땜해서 연결해야 하는 불편함이 사라져 프로브 카드의 제작이 더욱 간편해지고, TAB IC의 검사 속도가 더욱 개선되며 지지 블럭이 보강링에 체결 고정되도록 하여 니들어셈블리의 교체가 간편하게 이루어지도록 함으로서, 니들이 손상될 경우에 간편하게 니들어셈블리를 교체하여 프로브 카드 전체를 교체함에 따른 낭비를 줄일 수 있는 효과를 가지게 된다.