일반기술

ＸＯＲ트리를 이용한 테스트벡터 압축 방법

* 발명의 개요CUT에 설정되어 있는 주사열에 따라 테스트벡터를 생성하는 BIST에 있어서 상기 테스트벡터를 압축하는 방법으로서, "don't care" 비트를 사용하여 TD 벡터를 설정하는 단계, n개의 XOR을 포함하는 XOR 트리를 이용하여 TD를 줄이는 단계, 프리픽스 비트를 이용하여 씨드 벡터(TS 벡터)를 압축하고 TNS 벡터를 설정하는 단계를 포함하는 테스트벡터 압축방법.* 발명의 기술본 발명은 피검사회로(CUT, circuit under test)에 설정되어 있는 주사열(scan chain)에 따라 테스트벡터를 생성하는 BIST(built-in self test)에 있어서, XOR 트리를 이용한 씨드머징에 의해 테스트벡터를 압축하는 방법에 관한 것이다. 종래에 채널의 대역폭 문제를 극복하고자 선형 XOR 트리를 사용하는 압축방법이 제안되었다. 이 방법은 선형 XOR 매핑 네트웍(linear XOR mapping network)을 사용하여, 외부 테스터에 있는 회로의 주사열보다 적은 수의 주사열로써 CUT 내의 주사열(scan chain)을 채우는 방법이다. 이렇게 XOR 트리구조를 사용함으로써, CUT 내에 존재하는 실제 주사열의 수보다 더 큰 수의 가상의 주사열을 고려하게 되면 동일한 테스트 데이터를 표현하기 위해서 필요한 주사열의 길이를 줄일 수 있다. 또한 XOR은 LFSR(linear feedback shift register)과 동일하게 압축해제(decompression)가 되면서도 하드웨어를 약 25%로 줄일 수가 있으며, LFSR이 압축해제되기 위해 필요한 클럭이 테스트 데이터인 것에 비하여 XOR 트리가 중첩된 수만큼의 클럭이 필요하다.현재, 칩의 크기가 점점 커져가고, SoC(system-on-chip) 소자가 등장함에 따라 테스트에 필요한 테스트 데이터량이 점차 증가하고 있다. 비용적 측면에서 ATE의 크기를 무한히 늘릴 수는 없기 때문에 테스트 데이터량을 줄이는 것이 매우 중요하다. 기존의 LFSR을 이용한 방법들은 하드웨어 오버헤드가 크고 디코딩하는데 테스트 데이터 비트수 만큼의 시간이 걸리는 단점이 있다. 이를 극복하기 위하여 종래에 개발된 XOR 네트웍은 하드웨어의 오버헤드를 줄이고 테스트 적용시간을 감소시켰다. 하지만 이러한 경우에도 XOR 네트웍의 I/O수로 인해 압축율이 고정되는 단점이 있어, 이를 극복하고자 본 발명을 개발하게 되었다.* 발명의 과제이에 본 출원인은 종래의 LFSR을 이용한 테스트벡터 압축방법의 단점을 극복하기 위하여 ATPG에 의하여 생성된 테스트 패턴의 비지정비트를 임의로 매핑하는 방법 대신에, XOR 트리를 통하여 씨드 벡터로써 생성함으로써 압축 효율을 높힐 수 있는 방법을 개발하였다. * 발명의 효과테스트의 비용은 테스트 시간과 매우 밀접한 관계에 있으며, 이는 곧 테스트를 위해 가하는 테스트벡터의 길이와 직접적으로 관련된 사항이다. 따라서 테스트벡터의 길이를 줄이는 것은 경제적, 상업적인 측면에서 핵심적인 사항이다. 본 발명에 의하여 테스트 데이터의 높은 압축율을 얻을 수 있을 뿐 아니라 테스트 적용 시간을 확연히 줄일 수 있다. 또한, 본 발명의 방법은 큰 회로에 최적화되어 있어서, 보다 회로가 커지고 복잡해져 가는 시장상황에 적합한 방법이라 할 수 있다.