일반기술
광픽업의 광검출장치
본 기술은 광픽업의 광검출장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 광 부품의 변화량에 대해 광 검출기 셀에 검출되는 광의 경로가 일정하도록 한 광픽업의 광검출장치에 관한 것이다. 본 기술은 현재 주로 광픽업장치 분야에 응용되고 있다. 본 기술은 종래의 레이저 빔의 반사 경로가 열적인 영향 등에 의해서 경로 변화가 발생되어 실제 광검출기의 셀 상의 초점이 틀어지면서 광픽업의 서보 특성이 나빠지는 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 광검출기의 셀에 일정한 경로의 광이 수광되도록 함으로써 반사광 빔이 일정하게 검출되는 현상이 실현될 수 있도록 하기 위한 것이며, 그 중요성이 증가하고 있다. 본 기술의 광픽업의 광검출장치는, 반사광빔의 수광 위치에 포물면을 구성하고, 상기 포물면의 초점 위치에 광검출기 셀을 배치하여 포물면을 통해 반사된 반사광 빔이 일정하게 검출될 수 있도록 하기 위한 것으로, 상술된 바와 같이 포물면과 셀을 구성하며, 그 구성요소에 대한 내용은 다음과 같다. 1) 상기 포물면은, 디스크로부터 반사되는 반사광 빔을 일정한 방향으로 반사시키며, 광 부품의 열적변화에 대응하여 변하는 광 경로를 반사광 빔이 입사될 수 있는 크기 및 위치에 배치되게 한다. 2) 상기 셀은 상기 포물면으로부터 반사되는 반사광 빔을 수광하여 전기적인 신호로 검출하는 역할을 하는 것으로, 포물면의 반사 경로 상의 초점 위치에 배치되게 한다. 3) 상기 포물면과 셀은 광검출기에 일체로 결합되게 한다.본 기술은 현재 주로 광픽업장치 분야에 응용되고 있다. 본 기술은 반사광빔의 수광 위치에 포물면을 구성하고, 상기 포물면의 초점 위치에 광검출기 셀을 배치하여 포물면을 통해 반사된 반사광 빔이 일정하게 검출될 수 있도록 하기 위한 광픽업의 광검출장치에 관한 것으로, 그의 장점 및 특징은 다음과 같다. 1) 광 부품의 변화에 의한 광 경로의 변화에도 포물면 및 셀을 이용한 광 검출기를 통해서 광의 경로를 일정하게 하여 셀 상의 초점의 위치가 항상 변하지 않게 함으로써 광 픽업의 열 환경의 신뢰성을 대폭 향상시켜 줄 수 있게 한다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2007-05-18
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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