일반기술

광디스크의 틸트검출이 가능한 픽업장치

본 기술은 광디스크의 틸트 검출이 가능한 픽업장치에 관한 기술로서, 부빔을 형성하고 그 부빔의 모양을 판단하여 광디스크의 틸트 방향 및 틸트량을 용이하게 검출할수 있는 광디스크의 틸트검출이 가능한 픽업장치에 관한 것이다.본 기술을 포함한 기술군은 현재 주로 CD, CD-R, DVD, 광디스크 등의 분야에 응용되어 제품화 되고 있다.본 기술은 틸트를 검출하여 비용을 절감함과 아울러 디스크의 규격에 관계없이 틸트를 측정할수 있게 되어 사용효율이 증대되는 효과를 거둘수 있어 그 중요성이 증가하고 있다.본 기술은 레이져 다이오드, 시준렌즈, 빔스프리터 등으로 그 구성이 이루어지며, 각 구성에 대한 내용은 다음과 같다. - 첫째, 광픽업 장치의 광학계에서 레이저 다이오드에서 발광된 광이 시준렌즈를 거친 후, 좌우 또는/및 상하의 위상차를 갖도록 하는 제1위상판을 구비하여, - 둘째, 위상판에 의한 좌우 또는/및 상하의 빔의 비대칭성을 이용하여 틸트를 검출하도록 구성되어 - 셋째, 픽업장치에 부빔을 형성하는 위상판을 부가하여, 틸트발생시 부빔의 형상을 검출하여 틸트 발생시 부빔의 비대칭성을 측정하여 틸트의 각과 방향을 용이하게 검출함으로써, 다른 검출수단을 사용하지 않고 틸트를 검출하여 비용을 절감함과 아울러 디스크의 규격에 관계없이 틸트를 측정할 수 있게 되어 사용효율이 증대되는 효과가 있다.본 기술을 포함한 기술군은 현재 주로 CD, CD-R, DVD, 광디스크 등의 분야에 응용되어 제품화 되고 있다.본 기술이 위 응용분야의 기존 기술보다 뛰어난 장점 및 특징은 다음과 같다. - 첫째, 광디스크의 틸트 검출이 가능한 픽업장치는 픽업장치에 부빔을 형성하는 위상판을 부가하고, - 둘째, 틸트발생시 부빔의 형상을 검출하여 틸트 발생시 부빔의 비 대칭성을 측정하여 틸트의 각과 방향을 용이하게 검출함으로써, - 셋째, 다른 검출수단을 사용하지 않고 틸트를 검출하여 비용을 절감함과 아울러 디스크의 규격에 관계없이 틸트를 측정할 수 있게 되어 사용효율이 증대되는 효과가 있다.