일반기술

안테나 복사특성 측정용 평면 근접전계 측정기술

레이다용 안테나와 같이 고이득이고 펜슬 빔(pencil beam)인 안테나의 복사특성 측정에 가장 적합한 측정기술로서, 측정하고자 하는 안테나 면에 인접한 근접전계 영역의 평면에 분포하는 전계(electric field)를 측정하여 안테나의 원거리(far-field) 복사특성을 계산하는 간접 측정 기술임.원거리 측정시설과 컴팩트레인지와는 달리 안테나의 가까운 거리에서 측정하기 때문에 측정비용이 적게 소요되며 레이다 안테나와 같이 고이득인 경우의 측정 정확도가 우수하며, 2차원의 측정에 따라 2차원의 복사특성을 획득할 수 있으며 안테나면의 전계분포 분석을 통하여 안테나의 진단 및 교정이 용이함.근접전계 측정 기술은 방산분야의 무기체계(레이다, 탐색기, 근접신관 등) 뿐만 아니라 위성 및 이동통신용 안테나의 복사특성을 측정할 수 있는 기술로서 외국의 경우 60년대부터 개발하여 70년대에 무기체계개발에 적용하였으며 80년대부터 상용화되어 다른 산업분야에 사용되고 있음.(외국의 업체 : NSI(미), MIT(미), Oribit(이) 등)