일반기술

유기 EL 패널 및 그 테스트 방법

본 기술은 유기 EL 패널 및 그 테스트 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 유기 EL 패널의 에이징 테스트시 캐소드 전극을 좌우로 어긋나게 형성하고 각각의 캐소드 전극에 역전위를 인가하여 소자의 다이오드 특성에 의한 누설 결함을 검출함으로써 ITO 전극의 전기적 저항으로 인한 패널 전체의 테스트 불균일성을 해결하여 진행성 결함을 조기에 검출할 수 있도록 한 유기 EL 패널 및 그 테스트 방법에 관한 것이다. 현재 사용되고 있는 화상표시소자로는 음극선관(CRT)과 평판 표시소자인 액정표시소자(LCD), 플라즈마 디스플레이 패널(PDP), 유기 EL 등이 있다. 위의 화상표시소자 중 음극선관은 화질 및 밝기의 측면에서 다른 소자에 비해 월등히 우수한 성능을 갖고 있다. 그러나, 부피가 크고 무겁기 때문에 대형 스크린을 필요로 하는 용도로는 적합하지 않다는 단점이 있다. 반면에, 평판 표시소자는 음극선관에 비해 부피와 무게가 매우 작다는 장점이 있어 그 용도가 점차로 확대되고 있는 추세이며, 차세대용 표시소자로서 그에 대한 연구가 활발하게 진행되고 있다. 또한, 유기EL 디스플레이는 고품위 패널 특성인 저전력, 고휘도, 고반응속도, 저중량을 나타내고 있어 이동통신단말기,PDA, 캠코더, 팜PC(Palm PC) 등의 디스플레이로 각광받고 있다.본 기술에 의한 유기 EL 패널은 캐소드 전극패턴과 ITO 전극패턴이 서로 교차하는 지점에 유기 EL 소자가 배치된 유기 EL 패널에 있어서, 상기 캐소드 전극패턴이 서로 교번하여 좌우로 어긋나게 각각 연결된 제 1캐소드 전극패드 및 제 2캐소드 전극패드를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다. 본 기술은 유기 EL 패널의 에이징 테스트시 캐소드 전극을 좌우로 어긋나게 형성하고 각각의 캐소드 전극에 역전위를 인가하여 소자의 다이오드 특성에 의한 누설 결함을 검출함으로써 ITO 전극의 전기적 저항으로 인한 패널 전체의 테스트 불균일성을 해결하여 진행성 결함을 조기에 검출할 수 있는 이점이 있다.

기술정보

기술분류
전기·전자 > 기타 전기/전자
보유기관
(주)대우전자
기술유형
일반기술
등록일
2007-07-13
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

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