일반기술

오엘이디 소자의 에이징 방법

본 기술은 오엘이디 소자의 에이징 방법에 관한 것이다. 종래에는 오엘이디 소자에서 에이징(aging)을 실시할 때 스캔 라인(scan line) 양단에 구형파 펄스 전압 파형을 보내서 에이징을 실시하였다. 하지만, 이러한 구형파 펄스 전압 파형으로 에이징을 실시할 경우, 에이징 전압 인가 시 캡(capacitor) 성분으로 인하여 에이징 전압 파형의 라이징 타임(rising time) 시 충전이 일어나고 폴링 타임(falling time) 시 방전이 일어나서 인가된 파형이 그대로 픽셀(pixel)들에 전달되기 어렵고 진동이 발생한다. 이에 따라, 에이징 조건을 잡는 데 무리가 따르게 되어 효과적인 에이징을 수행하기 어려우며, 또한 오엘이디 소자에 무리를 줄 수도 있다. 본 기술의 목적은, 에이징 전압 인가 시 발생하는 캡 성분으로 인한 충전과 방전을 고려하여 에이징 전압 파형을 설계함으로써 에이징 전압이 픽셀들에 잘 전달되어 효과적인 에이징을 수행할 수 있도록 하는 오엘이디 소자의 에이징 방법을 제공하는 데에 있다.본 기술에 따른 오엘이디 소자의 에이징 방법은, 양전극층과 음전극층에 전압을 가하여 발광층을 포함하는 발광유기물층을 발광시키는 오엘이디 소자의 에이징 방법에 있어서, 충전을 위한 제1 전압이 인가되는 제1 구간, 에이징을 위한 제2 전압이 인가되는 제2 구간, 및 방전을 위한 제3 전압이 인가되는 제3 구간으로 구성되는 전압 파형을 주기적으로 인가하여 에이징을 수행한다. 본 기술에 의하면, 에이징 전압 인가 시 발생하는 캡(capacitor) 성분으로 인한 충전/방전을 고려하여 충전 전압, 에이징 전압 및 방전 전압으로 구성되도록 에이징 전압 파형을 설계함으로써 에이징 전압이 각 픽셀들에 제대로 전달되도록 하여 에이징 조건을 잡는 테스트를 수월하게 할 수 있을 뿐만 아니라 효과적인 에이징을 수행할 수 있도록 한다.