일반기술

칩테스트용 외부동기회로

본 기술은 칩테스트(chip test)용 외부동기회로에 관한 것으로, 특히 외부의 트리거(trigger)신호에 따라 내부동작을 동기시키기 위한 칩테스트용 외부동기회로에 관한 것이다.일반적으로 여러공정에 의해 만들어진 칩들은, 내부의 회로가 정확하게 동작하는지 측정하기 위해 위상이 서로 다르고 겹치는 구간이 없는 두 개의 신호(이하 논 오버랩핑(non-overapping)신호라 한다)로 상태신호를 만들어 이를 칩에 인가함으로써 출력상태에 따라 정상 또는 비정상을 판단하는 방법을 사용한다.본 기술의 목적은 문제점을 해결하기 위하여 외부에서 내부상태를 조절할 수 있도록 하여 칩테스트를 용이하게 할 수 있는 칩테스트용 외부등기회로를 제공하는 것이다.본 기술의 칩테스트용 외부등기회로는 입력되는 클럭신호의 폭을 늘려주기 위한 클럭폭 조절부와, 클럭신호 주기의 2배의 주기를 갖는 클럭신호를 발생시키는 2배 클럭 발생부와, 2배의 주기를 가는 클럭신호의 위상을 서로 반전시킨 후 소정구간에서 겹치지 않도륵 하는 논오버랩핑부와, 상태신호를 발생하는 상태신호 발생부와, 외부에서 들어오는 리셋신호에 따라 내부 리셋신호를 발생시켜 각 레지스터값을 초기화하는 리셋부와, 리셋부의 리셋신호와 외부에서 인가되는 트리거 신호를 논리곱하여 내부동기를 맞추는 내부등기부틀 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.