일반기술

X선 페이즈 콘트라스트 고배율 조직 검사 시스템 및 이를 이용한 조직 검사방법

본 발명은 X 선 페이즈 콘트라스트 고배율 조직 검사 시스템 및 이를 이용한 조직 검사방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 (ⅰ) 방사광 X 선, 봉합튜브(sealed-tube) X 선 및 레이져 X 선으로 구성된 그룹에서 선택되는 1종의 X 선 발생수단; (ⅱ) 시료를 투과한 X 선을 가시광선으로 전환하는 가시광선 전환수단; (ⅲ) 가시광선 상을 확대하는 광학계; (ⅳ) 상기 광학계에 의해 확대된 상을 검출기에 고정화하는 촬영수단; 및 (ⅴ) 상기 촬영수단에 의해 고정화된 영상의 재생수단을 포함하는 조직 검사 시스템 및 이를 이용한 조직 검사방법에 관한 것이다. (ⅰ) 방사광 X 선, 회전 음극 X 선, 봉합-튜브 X 선 및 레이져 X 선으로 구성된 그룹에서 선택되는 1종의 X 선 발생수단; (ⅱ) 시료를 투과한 X 선을 가시광선으로 전환하는 가시광선 전환수단; (ⅲ) 시료를 투과한 X 선상을 확대하는 광학계; (ⅳ) 상기 광학계에 의해 확대된 상을 검출기에 고정화하는 촬영수단; 및 (ⅴ) 상기 촬영수단에 의해 고정화된 영상의 재생수단을 포함하는 X 선 페이즈 콘트라스트 고배율 조직 검사 시스템.