일반기술

광 조형장치의 수평 및 초점거리 측정장치

본 발명은 광 조형 장치에 관한 것으로, 특히 광 조형 장치의 초점거리를 측정하는 장치에 있어서, 측정용 빛을 발생시키는 레이저와, 레이저에서 발생된 측정용 빛을 수직으로 반사시켜 초점 렌즈에 제공하여 측정용 빛을 광 경화성 수지에 제공하는 제 1 반사 미러와, 광 경화성 수지에 의해 반사되어 초점 렌즈를 경유한 측정용 빛을 수직으로 반사시키는 제 2 반사 미러와, 제 2 반사 미러에서 입사되는 측정용 빛을 감지하는 감지부가 적어도 둘 이상으로 분할되어 구성되며, 측정용 빛이 입사됨에 따라 각 감지부들에서 감지된 측정용 빛의 감지량으로 광 경화성 수지의 높이가 초점 거리에 부합되는지를 판단할 수 있는 측정용 빛의 입사 위치를 검출하는 광 검출기를 포함하며, 이를 이용하여 광 조형 장치의 초점 거리를 정확하게 측정하고, 이를 토대로 광 경화성 수지의 위치를 조정하여 초점 거리를 정확하게 맞출 수 있는 효과가 있다. 광 조형 장치의 레이저에 발생된 광이 초점 렌즈를 통해 광 경화성 수지의 초점에 입사되게 하기 위하여 상기 광 경화성 수지와 초점 렌즈 사이의 초점 거리를 측정하는 장치에 있어서, 측정용 빛을 발생시키는 레이저와, 상기 레이저에서 발생된 측정용 빛을 수직으로 반사시켜 상기 초점 렌즈에 제공하여 상기 측정용 빛을 상기 광 경화성 수지에 제공하는 제 1 반사 미러와, 상기 광 경화성 수지에 의해 반사되어 상기 초점 렌즈를 경유한 측정용 빛을 수직으로 반사시키는 제 2 반사 미러와, 상기 제 2 반사 미러에서 입사되는 측정용 빛을 감지하는 감지부가 적어도 둘 이상으로 분할되어 구성되며, 상기 측정용 빛이 입사됨에 따라 상기 각 감지부들에서 감지된 측정용 빛의 감지량으로 상기 광 경화성 수지의 높이가 상기 초점 거리에 부합되는지를 판단할 수 있는 상기 측정용 빛의 입사 위치를 검출하는 광 검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 조형 장치의 초점거리 측정 장치.