일반기술
자기에 의한 균열, 전위의 검출방법 및 장치
피측정물의 균열, 전도의 측정 장소주변에 자기센서를 2차원적 또는 3차원적으로 배치하고, 자기의 경시적 변화로부터 자기의 강도, 위치를 산출한다. 그리고 그 자기발생위치의 이동속도와 강도를 균열·전위의 크기와 진행속도의 지도하는 것을 특징으로 하는 기계구조재료용의 균열·전위의 검출장치.일반적인 기계구조재료의 검출은 각종 피파괴검사장치로 미소파괴의 발생장소를 발생후 검출하는 방법이 일반적이다. 그렇지만 본 특허에서는 이것을 사전에 피대상의 자장변동과 컴퓨터처리로 사전관찰할 수 있는 능력을 갖고 있다.
기술정보
- 기술분류
- 물리학 > 기타 광학
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2000-04-29
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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