일반기술
미소기울림 측정이 가능한 수준기
본 발명은 수준기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 좌우 수직 및 수평을 동시에 측정할 수 있음과 아울러 기울어진 각도 측정과 미소한 기울림에 대한 정확한 각도측정이 가능한 좌우/수직 수준기에 관한 것이다. 본 발명의 목적은 한번의 작업으로 좌우의 수직 및 수평을 동시에 측정할 수가 있고, 기울어진 방향 및 그 기울어진 각도까지 측정할 수 있으며, 미소한 기울림을 용이하게 측정할 수 있는 구형수준기를 제공함에 있다.
기술정보
- 기술분류
- 기계 > 가공·조립·측정 기술
- 보유기관
- (재)광주테크노파크
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2007-10-15
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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