일반기술
집적회로 장치에 흐르는 전류를 테스트하기 위한 내장형전류 검사 회로
본 발명은 집적회로 장치에 흐르는 전류를 테스트하기 위한 내장형 전류 검사 회로에 관한 것이다. 본 발명은 검사 대상 회로로부터 출력되는 검사 대상 전류 및 외부의 테스트 제어 신호를 입력하고, 상기 테스트 제어 신호에 응답하여 상기 검사 대상 전류를 출력하는 동작 모드 설정부; 및 외부의 기준 전류 및 상기 동작 모드 설정부로부터 출력되는 검사 대상 전류를 입력하고, 상기 검사 대상 전류의 크기를 상기 기준 전류의 크기와 비교하고, 상기 비교 결과에 따라 상기 검사 대상 전류의 양,불량을 판단하는 전류 판단부를 구비함으로써, 검사 대상 회로의 성능 저하가 최소화되며, 검사 대상 전류를 측정하는 시간이 빠르다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 고려대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2007-12-27
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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